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红外成像技术  052M4027H

学期:2016-2017学年秋 | 课程属性:专业核心课 | 任课教师:宋国峰等
课程编号: 052M4027H 课时: 54 学分: 3.0
课程属性: 专业核心课 主讲教师:宋国峰等
英文名称: Infrared Imaging Technology

教学目的、要求

本课程为材料,光学,电子等相关学科研究生的专业普及课。本课程将系统先容红外材料、器件、成像技术科学发展的基本情况,包括红外材料与器件主要的表征方法和制备方法,以及红外材料与器件光学,电学,磁学,热学和力学等物理学性能方面的内容,并先容器件制备技术和成像系统设计技术及一些当前研究的热点,重点关注基本概念、原理以及一些新的研究发现。通过本课程的学习,使学生对红外成像技术中设计的材料、器件、系统有比较深入的了解,掌握红外成像各方面的基本常识,了解其前沿研究领域,为以后从事红外成像传感与信息处理相关的科研工作打下基础。

预修课程

材料学,普通物理或材料物理

教 材

《光电成像原理与技术》,白廷柱,北京理工大学出版社,2006年 《半导体测试技术》,孙以材,冶金工业出版社,1984年

主要内容

第1章 绪论
红外成像技术发展史以及红外成像材料、器件、系统主要研究内容先容
第2章 红外辐射源
第3章 辐射的大气传输
第4章  红外响应材料及性能
第5章  红外探测材料的物性检测技术
5.1电学性能测试
5.2 红外光谱测量技术
5.3光电检测技术
5.4X射线衍射技术
5.5显微观察与分析技术
5.6质谱分析技术
5.7原子光谱技术
5.8热分析方法
5.9物性检测结果的评价

第6章  红外探测成像器件物理
6.1 红外探测器分类与性能参数
6.2红外焦平面探测器概况
6.3红外焦平面探测器的制备技术
6.4红外探测器性能表征技术
第7章  红外热成像系统的结构和特性分析

参考文献

1.	《碲镉汞材料物理与技术》,杨建荣, 国防工业出版社,2012年
2.	《Quantum-well infrared phtodetectors》B.F.Levine,AT&T Laboratories,1993
3.	《光电子技术》,梅遂生,国防工业出版社,2008年

授课时间: 星期一, 第9、10、11节
授课地点: 教1-213
授课周次: 3、4、5、6、7、8、9、10、11、12、13

授课时间: 星期三, 第9、10、11节
授课地点: 教1-213
授课周次: 3、4、5、6、7、8、9、10、11、12、13

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